| No.1-016 | 電界放出形走査型電子顕微鏡 |
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| 機器の概要 | 試料に電子線を照射し、放出される電子等を検出することによって、微細構造を観察したり、元素分析を行ったりする装置。 |
| 備品の用途 | 微小な物質の形態観察、元素分析など。 |
| 仕様 | 最大倍率：2,000,000倍、試料サイズ：最大15 cm□、EDS検出器 |
| メーカー名 | （株）日立ハイテク |
| 型式 | SU8600 |
| 購入年度 | R4年度 |
| 担当 | 材料・地域資源室 |
| 機器使用料（消費税込） | 料金表をご覧ください。 |
| 設備写真 |
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| 参考サイト | https://www.hitachi-hightech.com/jp/ja/products/microscopes/sem-tem-stem/fe-sem/su8600.html |
| お問い合わせ先 | 「設備・機器利用に関するお問い合わせ」をご参照下さい。 |
