| No.1-021 | Ｘ線回折装置 |
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| 機器の概要 | 粉末・薄膜における原子配列の規則性（結晶構造）を非破壊で評価可能な装置です。微小部の結晶解析、ナノ粒子の粒形分布評価、薄膜の膜厚測定などの高度な評価も可能です。新規材料の開発から日常的な品質管理にも幅広く活用できます。 |
| 備品の用途 | 粉末・薄膜・微小部の結晶構造解析、膜厚の非破壊評価、品質管理、ナノサイズ粒子の粒径分布評価等 |
| 仕様 | ○ 入射X線源：封入管式 ○ 管球種：銅（Cu）・銀（Ag） ○ 検出器：2台（高分解能用／高エネルギー用） ○ 機能：X線回折、微小部分析、反射率、小角X線散乱、二体分布関数解析 |
| メーカー名 | スペクトリス株式会社 |
| 型式 | EMPYREAN |
| 購入年度 | R6年度 |
| 担当 | 材料・地域資源室 |
| 機器使用料（消費税込） | 料金表をご覧ください。 |
| 設備写真 |
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| 参考サイト | |
| お問い合わせ先 | 「設備・機器利用に関するお問い合わせ」をご参照下さい。 |
