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地域産学官共同拠点整備事業

No.7-023 薄膜測定型ゼータ電位測定システム

No.7-023 薄膜測定型ゼータ電位測定システム
機器の概要 レーザードップラー方式により粒子サイズを、電気浸透流を測定することでゼータ電位を測定する装置。
備品の用途 ナノサイズの微粒子の大きさと物質表面のゼータ電位の測定
仕様 測定粒子径:0.6〜7000 nm、ゼータ電位:-200〜200 mV
メーカー名 大塚電子
型式 ELSZ-2
購入年度 H22年度
担当 材料・地域資源室
機器使用料(消費税込) 料金表をご覧ください。
設備写真
参考サイト
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